太阳能设备商奇裕暨奇元裕公司与AET Technologies共同于今年SNEC展筹办研讨会，针对LID光衰问题提出解决方案。借由快速含氧量检测，可帮助外延片与电池厂商提升产品品质，对抗LID。

研讨会中，除了有AET Technologies所属的AET Solar Tech技术专家分享氧含量检测技术及最新即时检测机台设备Oxymap之外，也特别邀请到法国太阳能机构(INES) 的首席研究专家说明快速量测氧含量的原理及掌握LID 光衰减的运用。此外，会中还深入探讨此一含氧检测技术实际运用在AL-BSF & PERC的情形。不少外延片制造及电池片重要业者出席，现场十分热烈。

近年来太阳能市场持续成长，在全世界市场需求的推动下，各家厂商纷纷投入资源开发新一代技术。然而对电池片制造商而言，取得有品质保障的外延片往往受限于现有检测技术与不利条件，例如特制的受测样本及长久的检测时间等。随着PERC的兴起，LID光衰减的议题也愈受重视，有鑑于此，对外延片中氧含量的快速有效检测变得尤其重要。而AET Solar Tech 所提供的Oxymap 设备则可以直接检测量产外延片的氧含量并精准掌握LID光衰表现，未来期待能协助业界掌握外延片品质，加强LID光衰减及LIR光还原的工艺开发。

奇裕暨奇元裕公司大中华区总经理简聪明说：“感谢AET Technologies与奇裕公司一同介绍先进技术方案给予大中华区客户。其Oxymap 氧含量检测技术，肯定能协助客户了解如何改善其产品及技术，进而提供高效产品；奇裕将持续提供客户全方位的技术支援，并满足客户多元化的需求。”